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Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. Vol. 2. Systèmes de me
Pierre Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
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Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. Vol. 1. Matériaux inte
Pierre Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
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Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée
Pierre Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
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